Banca Dati PROGETTI UE


Dati Progetto


Num. Contratto

COST 4143/12


Coordinatore

CNRS - FRENCH NATIONAL CENTRE FOR SCIENTIFIC RESEARCH (Francia)


Responsabile ENEA

MONTEREALI ROSA MARIA - FSN-TECFIS-MNF (FRASCATI)


Sito WEB

Sito WEB non disponibile


Descrizione

Soft 0.03 -1 keV and hard X-rays 1 -100 keV are one of the best tools for probing matter from the macroscopic to the atomic scale thanks to their penetrating power, spectral selectivity and ability to achieve single atom image. Apart from scientific applications, X-rays are everywhere in our daily life, from medicine, security, food safety, environment and cultural heritage. Ultra-intense X-ray free-electron lasers, plasma-based soft X-ray lasers and attosecond high harmonics have strongly changed the X-ray paradigm. Demands on optics and beam metrology are outstripping the conventional X-ray metrology pulled by synchrotron, EUV lithography and solar telescopes. This COST Action will bring together and consolidate a huge infrastructural and facility rich consortium of hundreds of PIs, ERs and ESRs. New synergies between the different groups will induce strong and fast progress in X-ray metrology. Firms and standardization laboratories are well involved. This Action will improve public and private researchers career at all stages, by increasing mobility and exchange. Five working groups will be set: “X-ray spatial metrology of optics”, “Spatial and temporal metrology of X-ray sources”, “X-ray coherent and incoherent imaging diagnostics”, “Damage on X-ray optics”, “High brightness and coherent X-ray sources for advanced spatial and temporal metrology”.


Attività svolta da ENEA

EnEA participates in Working Groups 2-3: • WG2: spatial and temporary metrology of X-ray sources: Diagnostics of X-ray sources and optics by using high resolution solid state imaging LiF detectors as a new tool for metrology). • WG3: X-ray coherent and incoherent imaging diagnostics High spatial resolution X-ray coherent and incoherent imaging in absorption and in phase contrast mode by using innovative and versatile solid state imaging LiF detectors as a new tool for microscopy even by lens-less techniques. Investigation of photo luminescent patterns based on point defects in insulation materials produced by Euv and x-ray lithography for photonics applications.


Programma Quadro

Other programmes


Programma UE

COST


Tipo Progetto

N/A - Non applicabile




Riferimenti ENEA


Posizione: 1283

Atto di Approvazione ENEA:

Codice Atto:

Unità alla stipula: UTAPRAD-MNF



Dati Finanziari (in euro)


Costo eleggibile del progetto: 72.000.000,00 Costo eleggibile per ENEA: N/D

Contributo al progetto: N/D Contributo a ENEA: N/D



Durata


Anno di stipula: 2013

Durata (in mesi):

Data di inizio: 01-01-2013

Data di scadenza: 15-11-2016



Partner (2)


Ruolo Tipologia Nome Nazione
COORD Istituti di ricerca CNRS - FRENCH NATIONAL CENTRE FOR SCIENTIFIC RESEARCH Francia
PARTNER Istituti di ricerca ENEA Italia



Keyword associate al progetto dal database di CORDIS (1)


Keyword
INNOVATION, TECHNOLOGY TRANSFER



Altre Keyword non presenti nel database di CORDIS (3)


Altri indici
Damage
Spatial and temporal metrology
Ultra-intense x-rays coherent imaging




ACCESSIBILITA'


Questo sito è stato progettato in modo da avere accessibilità e usabilità ottimali, in conformità alle linee guida sull'accessibilità dei contenuti web (WCAG v2.0).
Se trovi qualche elemento di questo sito che, relativamente all'accessibilità o alla validità, non sia conforme agli standard, contatta l'amministratore del sito all'indirizzo mail: .


Tasti di accesso rapido

I tasti di accesso rapido sono un meccanismo di navigazione che consente di muoversi nelle varie parti del sito usando la tastiera.


Tasti di accesso rapido disponibili

Questo sito utilizza una configurazione di tasti di accesso rapido per attivare la maggior parte dei pulsanti e dei link della pagina. Tali tasti sono:


  • Alt + 0    -> Vai alla Home Page del Portale
  • Alt + s    -> Esporta Progetto in PDF
  • Alt + a    -> Informazioni sull'accessibilità della pagina
  • Alt + b    -> Feedback Accessibilità (e-mail: direzione.ttec@enea.it)
  • Alt + c    -> Informazioni sulla privacy del sito (utilizzo cookies)

Informazioni sull'accessibilità

Abbiamo cercato di usare la nostra esperienza e conoscenza delle varie modalità di accesso a Internet per sviluppare un sito web chiaro e semplice da usare per chiunque.


Validazione

Abbiamo usato HTML 5.0 e CSS conformi alle specifiche dettate dal W3C, perché crediamo che usabilità e accessibilità debbano essere basate su fondamenta solide. Qualora doveste trovare qualche parte del sito che non rispetta queste regole, vi preghiamo di contattare l'amministratore del sito all'indirizzo mail: .
Abbiamo anche cercato di ottenere il livello AA di accessibilità secondo il metro di misura stabilito dalla versione 2.0 del WCAG. Siamo però consapevoli del fatto che alcuni punti stabiliti dal WCAG sono soggettivi: pur essendo sicuri di averli rispettati, sappiamo che potrebbero esistere casi particolari in cui la loro interpretazione potrebbe essere diversa.